Axios MAX Рентгенофлуоресцентный волновой последовательный спектрометр PANanalytical

Область применения:
-    В различных отраслях промышленности: металлургической, горнодобывающей, цементной, геологической, нефтехимической, производстве керамики, экологическом мониторинге
-    Проведения научно-исследовательских работ.
Диапазон определяемых элементов от Be до U
Пределы обнаружения элементов на уровне от 0,5 до 5 ppm
Рентгеновская трубка - с торцевым окном, max. напряжение 60 кВ, выбираются под задачу пользователя.
Существуют следующие варианты трубок:
-    Мощность 1 кВт (Axios); 2.4, 3, 4 кВт (Axios mAX)
-    Материал анода Cr, Rh, Mo, Аи
-    Толщина Be окна 75 микрон , 50 микрон (Axios mAX Advanced)
Спектрометры Axios mAX комплектуюткся новейшими рентгеновскими трубками SST-mAX, изготовленными по технологии "ZETA" (технология нулевого испарения катода трубки). Благодаря этому резко снижается инструментальный дрейф и обеспечивается долговременная стабильность интенсивности.
Рентгеновская трубка спектрометра Axios mAX Advanced обладает уникальными параметрами для улучшения чувствительность и скорости анализа по легким элементам:
-    Максимальный анодный ток 160 мА
-    Толщина Be окна 50 мкм
Гониометр DOPS:
-    Скорость сканирования: от 0,001 до 10 градусов 2 q в секунду
-    Скорость поворота: 40 градусов 2 q в секунду
-    Точность установки угла: 0,0025 градуса
-    Воспроизводимость установки угла 0,0001 градуса
Возможна установка двух фиксированных каналов для повышения производительности и нового сцинтилляционного детектора с максимальными счетными загрузками до 3.5 млн имп./сек для расширения диапазона определяемых концентраций по одной градуировке.
Новое программное обеспечение количественного анализа SuperQ 5.0 с пакетом Pro-Trace позволяет максимально приблизить нижние пределы определения элементов к статистическим пределам обнаружения.
Новейший пакет бесстандартного анализа OMNIAN делает доступным анализ любых объектов без специальной калибровки.
Программный пакет FP-Multi дает возможность анализировать толщину и элементный состав слоев покрытий и напылений.