ИФА-спектрофотометр, 200–1000 нм, планшеты, xMark

    Формат — 96-, 384- и 1536-луночные планшеты, кювета;
    диапазон измерения оптической плотности, А — 0-4;
    диапазон сканирования, нм — 200–1000;
    шаг сканирования, нм — 1;
    фотометрический метод — одно- или двухволновой;
    источник света — ксеноновая импульсная лампа;
    время считывания 96-/384-/1536-луночного планшета, с — 8/15/35;
    диапазон термостатирования, °С — +25 — +45;
    таймер, с — 0–999;
    тип встряхивания — линейное или орбитальное;
    скорость перемешивания — высокая, средняя, низкая, ручная установка;
    точность при 490 нм в диапазоне 0–3 ОЕ при однолучевом сканировании, % — 1;
    ПО Microplate Manager;
    возможность работать с образцами низкой и высокой оптической плотности;
    предоставление валидационных протоколов IQ/OQ.
    управление через ПК; USB-порт;
    габариты, Ш х В х Г, см — 54,4×21,9×44;
    масса, кг — 27,5.

Комплект поставки: анализатор, ПО Microplate Manager 6, USB-кабель, сетевой кабель, пылезащитный чехол, 2 запасных предохранителя.